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产品名称:

型半导体器件图示测试系统

产品类别: ENJ2005-C
ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,IV曲线自动生成,也可根据实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统生成的曲线都使用ATE 系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究.
  • 详细内容

ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,IV曲线自动生成,也可根据实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统生成的曲线都使用ATE 系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究.

通过USB或者RS232与电脑连接,通过友好的人机界面操作,即可完成测试。并实现结果以EXCEL和WORD的格式保存。提供过电保护功能,门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。 

应用领域 

领   域军工院所、  高校、半导体器件生产厂商、 
数控系统、  电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、 
新能源汽车、轨道机车检修 等 …… 
使   用测试分析 / 器件选型 
筛选检验 / 生产线 自动 批量 测试 等 …… 。 

技术指标 

主极参数 控制极参数
指标 标配 选配 指标 标配 选配 
①主极电压: 1mV-2000V 1000V ①控制极电压: 100mV-20V 80V 
②电压分辨率: 1mV  ②电压分辨率:1mV  
③主极电流: 0.1nA-50A 100A ③控制极电流: 100nA-10A 40A 
④电流分辨率:0.1nA 10pA    
⑤测试精度: 0.2%+2LSB     
⑥测试速度: 0.5mS/参数     
 
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